瑞研光学小课堂：光学元件表面质量名词讲解

瑞研光学小课堂：光学元件表面质量名词讲解

    划痕和麻点（坑点）的评价参数

光学表面的质量用来衡量光学产品表面特性，并且涵盖了一些划痕和坑点等瑕疵。这些表面的大部分瑕疵纯粹是表面上的瑕疵，并不会对系统性能产生很大的影响，虽然，它们可能会使系统通光量出现微小的下滑，使散射光出现更细微的散射。然而，有些表面会对这些影响更敏感

• 图像平面的表面，因为这些瑕疵会产生聚焦
• 具有高功率级别的表面，因为这些瑕疵会增加能量吸收并毁坏光学产品。

表面质量常用的规格是由MIL-PRF-13830B说明的划痕和坑点规格。通过将表面的划痕与在受控的照明条件下提供的一系列标准划痕进行对比，来确定划痕名称。

因此，划痕名称不是描述其实际的划痕，而是根据MIL规格将其与标准的划痕进行比较。然而，坑点名称直接与表面的点或小坑有关。坑点名称是通过以微米计的坑点直径除以10来计算的，通常划痕坑点规格在80至50之间将视为标准质量，在60至40之间为质量，而在20至10之间将视为高精度质量。

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